반도체산업에서는 까다로운 생산 환경과 각 공정별 세밀한 데이터 분석을 통한 품질 관리가 생산품의 품질을 좌우합니다.
기존 검사 방식은 불규칙하고 비정형화된 불량을 검수하기 위해 장비를 통한 1차 검사 후 작업자의 육안으로 다시 한번 검사하고 있습니다. 그러나, 인공지능 비전 검사 솔루션을 적용하면 작업자의 검수없이도 Wafer의 전면(全面)을 완벽히 검사 할 수 있습니다.
라온피플의 AI 소프트웨어 + 비전 솔루션을 먼저 도입한 타사의 구축 사례를 경험해 보세요
적용된 솔루션
NAVI AI Mars
반도체의 주재료인 웨이퍼는 깨지기 쉬운 재질로 만들어지기 때문에 취급에 많은 주의를 요구합니다.
라온피플은 AI를 활용해, 비정형적으로 발생하는 크랙을 정확하게 검출합니다.
검사 개요
1) 검사 분야 : 반도체
2) 검사 부품 : 웨이퍼
3) 검사 종류 : 크랙 검사
4) 검사 솔루션 구성 : NAVI AI Mars
라온피플 솔루션의 특장점
1) 영상 처리에 대한 지식이 없더라도, 비전 검사가 가능함
2) 비정형적인 결함의 위치를 정확히 검출함