솔루션/기술

EZ Defect

강력한 인공지능 결함 이미지 생성 솔루션
EZ Defect 은 딥러닝 알고리즘을 활용하여 산업 현장에서 발생하는 Defect 과 유사한 Fake Image 를 만들어 제공하는 소프트웨어 입니다. 산업 현장에 AI 를 도입할 때, 양품 데이터에 비하여 불량 데이터의 수량이 부족한 Class Imbalance 문제는 특정 분야에 관계 없이 나타나는 고질적인 문제입니다. 라온피플의 Ez Defect 은 이러한 불편함을 해소하고자, 사용자가 더욱 더 쉽게, 원하는 모양과 크기로 실제와 유사한 불량 이미지를 생성할 수 있는 환경을 제공합니다.

왜 라온피플인가요?
1. 빠르고 높은 시작점
- EZ Defect 을 통해 제작한 Fake Image 를 AI 초기 학습 데이터로써 활용하여, 불량 데이터가 적은 산업 현장에서 불량 데이터 확보를 위한 시기를 단축시켜 AI 도입의 시기를 앞당길 수 있습니다. 또한, 불량 데이터의 모수를 이른 시기에 확보하여 안정적인 AI 성능을 확보할 수 있습니다.
2. 마지막 1%
- 불량 데이터의 모수가 확보 된 후 , AI 학습시 성능이 특정 지점에서 정체될 수 있습니다. 라온피플의 Ez Defect 은 AI 가 취약한 특정 불량 유형에 대하여, 사용자가 산업 현장의 도메인 지식을 활용하여 원하는 불량을 원하는 위치와 모양으로 빠르고 쉽게 생성할 수 있습니다. 따라서 , AI 모델이 취약한 불량 데이터를 확보하여 정체된 AI 의 성능을 향상시킬 수 있습니다.
3. 더욱 더 쉽게
- EZ Defect 은 적은 데이터로 쉽게 학습하고, 사용자 친화적인 UI 를 통해 사용자가 원하는 불량 데이터를 만들 수 있습니다.
대표문의
sales@laonpeople.com031-707-7052온라인문의

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AI를 도입한 당신!

데이터 셋 구축은 순조로우신가요?

산업 현장에서 AI 도입시 마주하게 되는 가장
큰 벽은 바로 데이터 셋 구축입니다.

 

적은 데이터 셋
AI 도입 초기, 아직 학습에 충분한 데이터 셋이 쌓이지 않아
검사 성능을 끌어내기 어려움
짧은 구축 기간
충분한 데이터를 확보하기 위해서는 오랜 시간이 필요하지만 실제로는
단기간 내에 구축해야 하는 프로젝트들이 대다수
데이터의 불균형
메이저 불량은 넘칠 정도로 모이고 간헐적으로 발생하는 불량은 수집이
매우 어려움
아무리 좋은 모델이라도
훌륭한 데이터 셋이 뒷받침 되지 않는다면,
결국 기대하는 효과를 얻기 힘듭니다.


훌륭한 데이터 셋을 만드려면?




※ Good Data란?
데이터에 내재된 잡음이 최소화 되고, 각각의 데이터가 유형을 대표하는 대표성을 띄어
실제 AI 의 학습에 효과적으로 도움을 줄 수 있는 정제된 데이터.
 




데이터가 적은 경우
잡음들에 의해 학습 전체가
좌우됨.
Big Data를 사용하는 경우
잡음의 영향이 최소화 되지만 데이터 수집, 정제, 학습시간이 길어짐. (비효율적)
Good Data를 사용하는 경우
잡음이 최소화된 Good Data를 사용하면 소량의 데이터로도 훌륭한 결과 도출 가능.


이제는 Good Data 입니다.

이제 산업 현장에서는 아무리 좋은 AI 모델을 사용한다고 하더라도, 모델을 효율적으로
학습시키기 위해서는 Big Data보다는, Good Data가 필요합니다.

Big Data를 사용하면 좋은 것은 누구나 알지만 산업 현장에서 수많은 데이터들을 수집하고
정제하고 평가를 하기에는 현실적으로 너무 많은 시간과 자원이 필요하기 때문입니다.





Good Data를 만드려면?

정답은 EZ Defect 입니다!

EZ Defect은 라온피플이 제공하는 강력한 이미지 생성 솔루션으로, 실제로 산업 현장에서
발생하는 불량과 한없이 가까운 Good Data를 생성함으로써 부족한 불량 데이터의 확보를
효과적으로 돕는 솔루션입니다.

‘GAN’ 알고리즘을 사용하여 사용자가 원하는 위치와 모양으로 자연스러운 불량 이미지를
생성할 수 있습니다. EZ Defect을 사용하면 불량 데이터 모수 확보를 통해 AI 머신 비전
도입 시기를 앞당길 뿐만 아니라 획기적인 성능 개선까지 이루어 낼 수 있습니다!






생성 및 학습 시간 (GPU : RTX 3080 기준)
- 학습 시간 : 약 1시간 ~ 1시간 30분
- 생성 : 약 5~6 초 소요 ( 1024 x 1024 기준 )



한장의 이미지로 빠르게!

EZ Defect 은 반도체, 전기전자, 섬유, 금속, 제약 등 다양한 산업 도메인에서
활용이 가능한 솔루션입니다. 희소 불량 학습을 위해 한 장의 이미지로도
학습이 가능하며, EZ Defect Tool 을 사용하여 불량 위치를
레이블링하여 학습을 손쉽게 진행합니다.


원하는 위치 어디든!

EZ Defect Tool 을 통해, 양품 이미지 위에 발생하고자 하는 불량 유형을 선택 후
발생시키고자 하는 불량 영역을 레이블링 하면,
원본 이미지 해상도 그대로 불량이 발생된 이미지를 만들어 냅니다!


생성한 이미지가 실제로 학습에 도움을 줄까요?

EZ Defect은 원본 이미지의 훼손을 최소화하는 방향으로 이미지를 생성합니다.
그러므로 EZ Defect을 통해 생성된 이미지 역시 원본 데이터와 거의 동일한 값을
가지기 때문에 효과적인 학습 데이터로 활용할 수 있습니다.



EZ Defect을 통해 취약한 불량 유형에 대한 데이터를 추가하여
전체 검사 정확도를 개선할 수 있습니다!



EZ Defect을 활용해보세요!

EZ Defect은 산업 현장에서 발생하는 다양한 문제를 해결해 줄 수 있습니다.




불량 데이터 취득 문제
간헐적으로 발생하는 불량 데이터의 수집에는 오랜 시간이 소요되지만,
EZ Defect은 사용자가 원하는 결함 이미지를 생성시킴으로써 실제 AI를
도입하기까지 소요되는 기간을 효과적으로 단축시킬 수 있습니다.

데이터의 불균형 문제
아무리 우수한 성능의 AI라도 양품/불량 간, 혹은 불량 유형 별 데이터의
불균형이 일어난다면 제 성능을 내지 못합니다. EZ Defect은 데이터의
다양성은 물론, 데이터의 불균형 또한 해결할 수 있습니다.

AI 모델 성능 문제
AI 모델은 특정 유형의 불량에 대해 취약할 수 있습니다. EZ Defect을 통해
취약한 유형의 불량을 생성시켜 학습 이미지로 활용한다면, AI 모델의
정확도를 개선할 수 있습니다.