제품소개
Overview
LaonCeph은 측면 X-Ray 이미지를 이용한 2D 교정 진단을 위한 세팔로분석 소프트웨어입니다.
세팔로 영상 분석을 위한 Auto Landmark Detection 기능을 제공하며, 특히 Auto Landmark Tracing은 정밀한 Landmark 탐색으로 기존의 직접 선정하는 방식보다 2D 세팔로 영상 분석 시간을 단축해 드릴 것입니다.

Features
  • Automatic Landmark Detection
  • Cephalometric Measurement
  • Polygonal Chart
  • Treatment Planning and Simulation
Key Functions
Automatic Landmark Detection

다양한 환자의 치아 골격 유형에서도 정확한 Landmark 위치 정보를 사용자 입력 없이 얻을 수 있습니다.
Cephalometric Measurement
찾아진 Landmark를 이용하여 선택된 분석법에 따라 Landmark 점들의 길이, 각도 등의 치수 정보를 확인할 수 있습니다.
Polygonal Chart
분석법에 따라 분석된 환자 정보를 Polygonal Chart 형태로 표현합니다.
Treatment planning and simulation
 X-Ray 이미지와 Photo 이미지의 편리한 매칭 기능

 손쉬운 이미지 변환 기능 및 결과 표시 기능