• 강인한 검출 능력(복잡한 배경)
• 태양광 패널 표면의 비정형 크랙 및 이물 검출
• 이물 및 크랙 검출 허용 범위 조정 가능
• 짧은 검사 검토 기간
• 검사를 위한 공정개선 불필요

태양광 패널 위 비정형 크랙 및 이물 검사에 특화된 태양광 패널 검사 솔루션

• 기존 태양광 패널 검사에서 발생할 수 있는 다양한 불량 유형 학습 (Align이 맞지 않거나 깨진 패널, 오염된 패널, 미세 크랙이 존재 하는 패널)
• 공정상 발생할 수 있는 예외 유형의 불량 유형도 빠른 시간 내 학습 가능(30분~ 반나절)

기존 검사 공정에 적용 가능한 가변적 패키지

검사 소프트웨어

• 기존 학습 모델을 활용하여 추가적인 학습 없이 태양광 패널 검사 도입 가능 (Polycrystalline Silicon Solar Cells 기준)

비전 카메라

• 검출 허용 범위에 따라 선택하는 다양한 비전 카메라(10M / 25M / 50M)

조명

• 재질 및 공장 환경에 따라 선택하는 다양한 조명(돔 / 동착낙사 / 바 / 수직 / 수평 조명 등)

PC

• 딥러닝에 특화된 전문 PC 사용

기구

• 설치 기구의 높여, 폭 등이 조정 가능하여 기존 생산 공정을 개선하지 않고 적용 가능